二次元/三次元光学影像座标测量仪器

详细说明 品质特征： ◆高精度花岗岩底座、立柱及工作台面，保证拥有极高的稳定性及刚性。 ◆两层工作台设计、精密级V型导轨，保证拥有极高的机械精度。 ◆三轴摩擦精密传动、灵敏可靠、无背隙、并可快速移动。 ◆高质量光学系统和高分辨率CCD，确保拥有高质量的测量画面。 ◆LED环形表面光源及轮廓光源，避免工件发热变形。 ◆精密光学尺，分辨率为0.001mm，重复精度为0.001mm。 ◆采用英国Renishaw接触式探头。 ◆强大易用的影像+三坐标测量软件，一次性完成整个工件的测量。 技术参数： 仪器型号 仪器参数 ZFSV2010M/C ZFSV3020M/C ZFSV4030M/C ZFSV5030M/C 测量范围（mm） X 200 300 400 500 Y 100 200 300 300 Z 150 150 200 200 工作台 （mm） 大理石台面 356×266 506×326 606×476 706×476 玻璃台面 260×160 360×260 460×360 560×360 承重 10kg 15kg 15kg 15kg 影像及测量系统 CCD 1/3寸彩色高分辨率摄像机 41万像素 变焦物镜 0.7°4.5×连续变倍物镜 视频放大倍率 25°225× 物方视场 10.6°-1.6mm 工作距离 90mm 显示分辨率 0.0001mm 接触式测头 英国Renishaw MCP 线性精度 （μm） E1=3+L/200 E2=3+L/150 E3=4+L/100 （L为被测长度单位 mm） 外形尺寸 （mm） 650×485×939 820×580×1100 970×720×1100 970×720×1100 仪器重量 (kg) 150 215 375 400 照 明 LED表面光及轮廓光、亮度可调 电 源 220V±10%（AC）50HZ 注: M-手动 C-电动